1. MOS器件物理，制造与测试

2. 光电信号传输与通信

1. 器件老化的机理与寿命预测

2. 随机电报噪音的表征与随机模型

3. 小尺寸器件动态差异化建模

4. CMOS器件测试与表征技术

研究成果  

1)     构建了CMOS器件中各种缺陷的框架，并对各种缺陷的性能进行了划分。

2)     建立了As-grown-Generation(AG) 老化模型，并对其可预测能力进行了验证。

3)     发明了新的测试技术。

例如缺陷能级分布的测试技术；多脉冲放电对不同缺陷划分技术, 纳米尺寸器件老化差异性快速测量技术等。

4)     论证了不同元素，载流子，材料及工艺对CMOS器件中缺陷的影响。

5)     建立了Integral Methodology随机电报噪声模型，并对其可预测能力进行了验证。

6)     发展了基于随机电报噪声的随机数字发生器。

学术贡献

1)     在IEEE 期刊上发表文章80多篇。

2)     在International Electron Devices Meeting (IEDM) 和 VLSI Technology Symposium 上发表文章21篇。

3)     在国际会议，期刊上发表特邀文章49篇。

     作为Member of technical program committees, 参与组织以下国际会议：

（i）                  IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), USA。

（ii）                 IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC), USA。

（iii）               IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of  

                   Integrated Circuits (IPFA)，Singapore。

（iv）                ECS International Symposium on Silicon Nitride, Silicon Dioxide

Thin Insulating Films, and Emerging Dielectrics，USA。

欢迎志同道合的同学们加入。